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Test Expert

VayoPro-Test Expert 是一款电子制造业快速DFT分析及测试&检测程序快速制作必备软件。其最大化利用设计CAD数据与物料BOM数据,通过智能化融入测试工艺要求,快速实现准确DFT/测试覆盖率分析及快速实现ICT/飞针/AOI/X-ray测试程序制作,并可扩充测试夹具数据分析。使用该产品不仅可将数天的DFT分析工作大幅缩短至数分钟,而且可快速智能生成精细的测试&检测程序,充分缩短测试人员Debug调试时间及降低测试夹具成本。

专业全面的PCB数据解析,确保测试的准确性
无论您测试工作中遇到如下哪种PCB CAD数据或Gerber数据,VayoPro-Test Expert软件均可以智能识别数据类型,并专业、全面、准确协助您进行分析,同时直观展示给您,以便您参考应用。

CAD版本比较
比较不同版本的CAD数据源,输出元器件差异报告/ 网络差异报告;验证ECN/ECO通知信息;最大化共用测试夹具。



BOM分析校验
支持Text及Excel格式导入,自动检查BOM内部错误(重复元器件、数量不配匹、料号重复、遗漏元器件),输出准确的BOM供内部使用,减少人工校验疏漏。


详尽的测试选针设置,互动式结果查询分析
丰富灵活、直观明晰的选针设置及行业最优的测试针优化算法,保证了最佳的测试植针结果。您不但可以详细设定规则细节(大小、距离、种类、数量、优先级、强制位置等),还可以设置不同的多个选针规则系列,同时生成不同的结果用于比较差异。在浏览结果时,你不但可以看到不可测原因归类,还可以互动切换到PCB视图位置更直观了解详情制定调整方案。


优化选针结果(Net Link)
独有的Net Link功能可以发现通过0欧姆电阻、保险丝、开关等"连通"的网络,优化合并,从而提升测试网络覆盖率/可测率;或者保持覆盖率不下降的前提下,减少测试用针,降低夹具成本。



通过Gerber验证下针准确性
在生产中,用于PCB制作的Gerber有时会与PCB CAD不一致,导致测试点被阻焊层覆盖。VayoPro-Test Expert支持导入额外的Mask层Gerber,验证下针位置接触性,对于被覆盖的测试位置可以重新定位。


丰富实用的DFT分析内容,多样的可测试性报告格式
VayoPro-Test Expert可测试性报告富含丰富的内容:测试覆盖率百分比、测试网络详细报告、未测试网络详细报告、元器件报告、引脚下针覆盖报告、并联分析报告等;而且可以以不同文件格式展示:文本、PDF、Excel及Html。


设计在线测试夹具,快速制作ICT/MDA程序
强大的夹具设计功能,可以让您设计出最优化的夹具,输出各种夹具钻孔绕线等数据文档;同时可以生成各种MDA/ICT/ATE精细测试程序,支持的测试设备有Agilent, Teradyne/GenRad, Spea, TRI, Checksum, MTS, JET, Hioki, Areaflex/IFR, SRC, …


批量快速调整参数,生成优化飞针测试步骤
VayoPro-Test Expert输出飞针测试程序时,可以产生非常丰富的测试步骤,减少调整时间。同时您也可以批量调整参数如测试针偏移,自动产生open-check sensor位置数据等,使得输出的测试步骤更精细更精确。无论您的飞针测试设备是TAKAYA, SPEA, HIOKI, SEICA, 还是Acculogic, 您都可以在VayoPro-Test Expert找到输出接口,快速生成测试程序。


智能提取值/误差
VayoPro-Test Expert可以智能地从BOM中的Description描述栏位提取Value/Tolerance值/误差,减少人为录入时间,从而节省Debug调试时间。


夹具再利用分析
VayoPro-Test Expert可以在ECN/ECO后产生夹具再利用分析报告:验证ECN变更后测试针位置变化,分析新加测试针位置,分析CAD数据中元器件位置变化及网络关系变化。


快速制作AOI/X-ray测试程序
VayoPro-Test Expert可以生成各种X-Ray及AOI自动测试设备程序,如Agilent 5DX/SJ50, ViTrox V810 &V510, Omron, VI Technology, Orbotech, Viscom, TRI, Landrex, …


强大的拼板功能
灵活的拼板功能,让您轻松制作子母拼板、矩阵拼板、多角度拼板、阴阳拼板 、不同产品拼板等。


Step by Step易学易用操作流程
Step by Step的操作流程为软件的学习及使用提供了极大的方便性。


原理图交互查询
原理图与Layout图交互式查询,动态链接两种设计数据,实现元器件及网络快速查询;为故障诊断提供了最大的方便性。


并联电阻/电容计算
自动检索报告网络之间的并联电阻及电容,并重新计算阻值及容值,极大的提升测试准确性。

效 率 提 升
项目 VayoPro-Test Expert产品功能 效率提升
CAD/Gerber导入 直接利用原始设计数据 >90%
BOM分析处理 自动化取值、快速准确 >80%
DFT/可测试性分析 快速生成多种详细报告 >90%
ICT夹具设计 优化的夹具设计、降低测试成本 5%-10%
ICT测试编程及调试 精细的测试程序、减少在线调试设备占用时间 30%-50%
飞针测试编程及调试 优化的测试程序、减少在线调试设备占用时间 50%-80%
AOI/X-Ray编程 快速生成检测程序数据 30%-60%

企 业 回 报

1. 快速DFT测试覆盖率分析.

2. 最小化ICT夹具成本.

3. 快速测试程序制作

4. 减少在线程序Debug调试时间

5. 降低人力成本

6. 提升NPI应对能力

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